図3-9 (c)ビスマス(Bi)と(d)銀(Ag)の表面において観測された電子スピン偏極率(配列度合)と厚さとの関係

図3-9 (c)ビスマス(Bi)と(d)銀(Ag)の表面において観測された電子スピン偏極率(配列度合)と厚さとの関係

データの縦・横棒は誤差です。

ブラウザの閉じるを実行するか、右の閉じるボタンをクリックしてください。≪閉じる