水酸化セシウム蒸気と反応させたSS断面の微細組織観察の元素分布（右図）により、Cs付着層のSiとCsが似た分布挙動を示していることから、両者が化合物を形成していることが示唆されました。さらに顕微HAXPES（左下図）の化学形分析により、SS中のSi濃度の違いにより生成するCs化合物の化学形が異なることが分かりました（右図）。今後は、その存在が明らかとなったCs化合物の化学特性を考慮したモデルを構築することで、炉心内のCs分布評価の精度向上に貢献していきます。