CTによってダンプに廃棄される電流量の絶対値を測定し、MWPMの測定からH⁰とH^-の存在量の相対的な比を得ることができます。それらのデータから評価した厚みは、ビーム照射による昇華で照射直後に下がりますが、その後は形状変化やピンホールの形成によって厚みが変動しています。本研究開発によって運転中に薄膜を使用しながら、膜厚変化を測定することが可能となりました。