X線を対象物質に入射し、散乱角の小さい範囲で生じる散乱プロファイルを解析することにより、数nm〜数百nmの空間スケールに渡る構造を調べる測定手法である。本手法は、階層的な秩序構造を有する高分子などのソフトマターに対して特に有用である。(5-6 従来膜を凌駕するグラフト型電解質膜の燃料電池特性)
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