K吸収端濃度計測法（KED）と蛍光エックス線濃度計測法（XRFD）を組み合わせた計測法。物質にエックス線を照射すると、内殻電子の結合エネルギーに相当するエネルギーでエックス線の吸収が急激に増加し、透過スペクトルにはエッジ構造が現れる。特に、K殻電子による吸収をK吸収、そのエッジ構造をK吸収端という。KEDでは、照射エックス線のK吸収による強度減衰率から溶液中の主要な物質の濃度を求める。一方、XRFDでは、照射エックス線の吸収後に放出される蛍光エックス線の強度が溶液中の物質の濃度に比例する性質を利用して、KEDで求めた主要な物質との強度比から、微量に含まれる物質の濃度を求める。(5-3 溶液中の核物質の高精度な測定を目指して)
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