化合物や混合物の着目元素のみ抽出する２次元分布測定手法

画像処理アルゴリズムにより、着目元素のみ測定干渉を避けて分離、２次元分布として表示可能

 

●　標準試料を用意するだけで干渉元素による外乱影響を排除

●　(条件が整えば)既にある測定結果にも適用可能

●　様々な２次元元素分析測定に適用可能

キーワード：　画像処理、元素分析、ピーク分離2次元元素分析

 

図7-10

拡大図（743 kB）

 

技術のステージ
利用分野

stage3

 ・バルク試料(鉄鋼原料等)における化合物評価
・不具合・異常箇所の特定(電子基盤や太陽電池等)
・食品、バイオテクノロジー
関連業種
知財・関連技術情報
鉄鋼業、医療業、農業
 特許第7153324号
Abe, Y., et. sl.., 2020, ASME J of
Nuclear Rad Sci, 6(2), p. 21113
｜