● イオン・チャネリングを用いた透過膜で妨害粒子を分別
● 加速器質量分析装置(AMS)の飛躍的な小型化が可能に
● ガス・ストリッパーが不要、同重原子の分別効率も大幅向上
キーワード: 加速器質量分析装置、AMS、ストリッパー、ディグレーター、年代測定
技術のステージ
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利用分野
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・加速器質量分析 ・イオンビーム |
関連業種
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知財・関連技術情報
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電気業、専門サービス業 |
特許第6569048号(共願:鰍リスコ) Matsubara,N.Fujita,and K.Isii,Nucl.Instrum.Methods,B437,81(2018) |